粒度儀測(cè)試的幾種方法介紹

粒度測(cè)試的方法很多，具統(tǒng)計(jì)有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種，另外還有幾種在特行業(yè)和領(lǐng)域中常用的測(cè)試方法。
1、沉降法： 

沉降法是根據(jù)不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同測(cè)量粒度分布的一種方法。它的基本過程是把樣品放到某種液體中制成一濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下將發(fā)生沉降。
2、激光法： 

激光粒度儀作為一種新型的粒度測(cè)試儀器，已經(jīng)在粉體加工、應(yīng)用與研究領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。它的特點(diǎn)是測(cè)試速度快、測(cè)試范圍寬、重復(fù)性和真實(shí)性好、操作簡(jiǎn)便等等。 

3、篩分法： 

篩分法是一種傳統(tǒng)的粒度測(cè)試方法。它是使顆粒通過不同尺寸的篩孔來測(cè)試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式，以用單個(gè)篩子來控制單一粒徑顆粒的通過率，也以用多個(gè)篩子疊加起來同時(shí)測(cè)量多個(gè)粒徑顆粒的通過率，并計(jì)算出百分?jǐn)?shù)。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負(fù)壓篩、自動(dòng)篩等多種方式。顆粒能否通過篩幾與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān)，不同的行業(yè)有各自的篩分方法標(biāo)準(zhǔn)。 

4、電阻法： 

電阻法又叫庫爾特法，是由美國(guó)一個(gè)叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測(cè)試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過一個(gè)小微孔的瞬間，占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測(cè)試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過小微孔時(shí)，小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號(hào)，通過計(jì)算機(jī)對(duì)這些電阻信號(hào)進(jìn)行處理就以得到粒度分布了。 
5、顯微圖象法： 

顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭（或數(shù)碼像機(jī)）、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對(duì)這些圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別等處理，計(jì)算出每個(gè)顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就以得到粒度分布了。