激光粒度分析儀的原理與特點介紹
激光粒度分析儀的測量原理
　　激光粒度儀是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠的地方，并且在傳播過程中很少有發散的現象。
　　為了測量不同角度上的散射光的光強，需要運用光學手段對散射光進行處理。我們在光束中的適當的位置上放置一個富氏透鏡，在該富氏透鏡的后焦平面上放置一組多元光電探測器，不同角度的散射光通過富氏透鏡照射到多元光電探測器上時，光信號將被轉換成電信號并傳輸到電腦中，通過軟件對這些信號進行處理，就會準確地得到粒度分布了。
　　
　　激光粒度分析儀的特點
　　1.測量粒徑范圍廣
　　激光粒度分析儀進行從納米到微米量級如此寬范圍的粒度分布。約為：20nm~2000 μ m，某些情況下上限達3500μm；由于儀器使用過程中無須更換鏡頭及調整光學系統，提高了系統的穩性，簡化了操作過程。
　　2.適用范圍廣
　　激光粒度分析儀不僅能測量固體顆粒，還能測量液體中的粒子。
　　3.重現性好
　　激光粒度分析法與傳統方法相比，測試過程不受溫度變化、介質黏度，試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，激光粒度分析儀能給出準確靠的測量結果。
　　4.測量速度快　
　　整個測量過程在2 分鐘左右即完成，某些儀器已實現了實時檢測和實時顯示，以讓用戶在整個測量過程中觀察并監視樣品。
　　5.操作簡單　
　　激光粒度分析儀能夠自動完成數據采集、分析處理、結果保存、打印等功能，操作簡單，自動化程度高。